JIS-A型標準試験片｜電子磁気工業

標準試験片の目的は、磁粉探傷の感度及び精度を客観的に評価したり、

また、その探傷感度及び精度を左右する書因子である装置・磁粉・検査液の性能・

探傷面に左右している磁場の強さと方向・試験操作の適否などをそれぞれ調べたりする時に使用します。

Ａ型標準試験片は、検出しようとする欠陥の方向の磁粉模様が確実に形成されるように、

磁化方法や磁化電流値及び磁粉の適用法や検査液中の磁粉の濃度など、

磁粉模様を確認することで探傷精度を維持するために使用します。

試験片は純鉄薄板の片面に溝を作ったもので、その種類は溝の深さ、

板の材質及び板の厚さにより数種類に分類されます。

使用にあたっては、溝のついている方の面と探傷面とが密着するように、

適切な粘着テープで固定します。この時、貼り付ける試験面は、

試験片が全面密着できるような面でなければなりません。

Ａ型標準試験片は、日本非破壊検査協会で定めたものを用い、

入手初期の形状・寸法・材質に変化を生じた場合は使用してはなりません。